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Zeta-APS 高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

更新时间:2020-04-16

简要描述:

Zeta-APS 高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪
Zeta-ASP是高浓度胶体和乳液的特性参数检测仪,可以测试:粒径、Zeta电位、滴定、电导等。
此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%(体积)浓度的样品,也无需进行稀释或样品前处理,即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。

Zeta-APS 高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

典型应用:

综合稳定水泥浆,陶瓷,化学机械研磨,煤浆,涂料,化妆品,环境保护禅选法矿物富集,食品工业,乳胶,微乳,混合分散体系,纳米粉,无水体系,油漆成像材料。

主要特点:

1)能分析多种分散物的混合体;

2)无需依赖Double Layer模式,精确地判定等电点;

3)可适用于高导电(highly conducting)体系;

4)可排除杂质及对样品污染的干扰;

5)可精确测量无水体系;

6)Zeta电位测试采用多频电声测量技术,无需先测量粒度即可进行电位测量;

7)样品的高浓度可达60%(体积比),被测样品无需稀释,对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量;

8)具有自动电位滴定功能;

优于光学方法的技术优势:

1)被测样品无需稀释;

2)排除杂质及对样品污染的干扰;

3)不需定标;

4)能分析多种分散物的混合体;

5)高精度;

6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um

Zeta-APS 高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

优于electroactics方法的技术优势:

1)无需定标;

2)能测更宽的粒径范围;

3)无需依赖Double Layer模式

4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲;

5)零表面电荷条件下也可测量粒径;

6)可适用于无水体系;

7)可适用于高导电(highly conducting)体系;

优于微电泳方法的技术优势:

1)无需稀释,固合量高达60%;

2)可排除杂质及对样品污染的干扰;

3)高精度(±0.1mv);

4)低表面电荷(可低至0. 1mv);

5)electrosmotic flow不影响测量;

6)对流(convection)不影响测量;

7)可精确测量无水体系;

技术参数:

1)所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um;

2)可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减;

3)Zeta电位测量范围:+/-200 mv,低表面电荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

4)零表面电荷条件下也可测量粒径;

5)允许样品浓度:0.1-60%(体积百分数);

6)样品体积:30-230ml;

7)PH范围:0~14;

8)电导率范围:0~10 s/m

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