高浓度纳米粒度及zeta电位分析仪将纳米粒度分析和 Zeta 电位分析功能集成于一体,一次测量即可同时获得纳米颗粒的粒度分布和 Zeta 电位信息。这种多功能一体化的设计不仅方便了操作,减少了样品用量和测量时间,还能够了解纳米材料的特性。通过对比粒度和电位信息,可以深入研究纳米颗粒的表面性质、分散稳定性以及与其他物质的相互作用机制等,为纳米材料的优化设计和应用提供更丰富的依据。
由于其能够准确测量高浓度纳米体系,并且具备多种分析功能,该仪器在众多领域都有广泛的应用。在纳米材料研发领域,可用于研究纳米颗粒的合成、生长过程以及表面修饰对粒度和电位的影响;在生物医药领域,可用于分析纳米药物载体的粒度和表面电荷特性,评估其药物载载能力和生物相容性;在化工、能源等领域,对于纳米催化剂、纳米复合材料等的性能研究和质量控制也具有重要价值。
高浓度纳米粒度及zeta电位分析仪可适用于高浓度体系:
1.突破传统限制
-传统的纳米粒度和 Zeta 电位分析仪器在高浓度样品测量时往往面临诸多问题,如多重散射影响大、颗粒团聚导致测量结果失真等。而高浓度纳米粒度及zeta电位分析仪专门针对高浓度体系设计,能够有效克服这些困难,实现对高浓度纳米悬浮液的准确测量。这使得研究人员可以直接对实际应用中的高浓度纳米材料体系进行表征,无需对样品进行过度稀释,更贴近实际工况,提高了测量结果的实用性和可靠性。
2.提高测量效率
-能够直接测量高浓度样品,大大减少了样品制备的时间和成本。避免了因稀释样品可能引入的误差和对样品体系的改变,同时也节省了大量用于稀释样品的溶剂和时间。对于大规模的样品筛选和质量控制工作,高浓度测量能力使得分析过程更加快捷,提高了工作效率。