当前位置:首页 > 技术文章YH-MIP-0103SE三大核心技术赋能|升级半导体化学品微粒质控标准
半导体先进制程不断升级,微小颗粒污染易造成晶圆划伤、光刻破损等缺陷,拉低生产良率。传统光阻法、人工检测存在漏检、误差大、难以溯源等短板。胤煌YH-MIP-0103SE微粒分析仪依托智能算法、高精度成像、合规数据体系三大技术,实现半导体化学品微粒定性、定量、溯源一体化检测,帮助企业搭建高标准质控体系。微粒检测核心价值与技术优势微粒检测是半导体化学品来料质检、生产工艺管控、成品性能校验的关键环节,检测能力会直接影响制程良率与生产线稳定性。先进制程对微粒管控标准不断收紧,微量杂质都...从微米到纳米,胤煌科技MIP系列筑起医疗器械颗粒检测“防火墙”
随着GB/T46147-2025《医疗器械生物学评价纳米颗粒脱落和释放测量》国家标准的正式发布,医疗器械行业中关于“纳米颗粒”的风险评价迎来了统一的技术依据。这一标准的出台,将业界的目光从常规的微米级颗粒进一步延伸至更微小的纳米世界。无论是纳米颗粒还是传统意义上的不溶性微粒,对于注射器、输液器、透析管路等直接或间接接触人体的医疗器械而言,任何脱落的微小异物都可能成为引发医疗风险。作为一家专注于颗粒检测分析的高新技术企业,胤煌科技及其核心产品——MIP系列显微计数法不溶性微粒分...电话
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