电声法zeta电位分析仪广泛应用于生化研究等领域

　　颗粒表面Zeta电位的大小是表征悬浮液和胶体稳定性的重要参数。当Zeta电位较高时，粒子之间表现为排斥力大于吸引力，粒子倾向于分散，体系比较稳定；当Zeta电位较低时，粒子之间表现为排斥力小于吸引力，粒子倾向于团聚，体系稳定性被破坏。

　　测量动态光散射（DLS）（也被称为准弹性光散射（QELS））的技术。其他DLS技术包括频率分析和互相关函数。以悬浮在液体中并由相干光源照亮的微粒所散射的光的强度来测量时间依赖波动纳，米级微粒特征描述所采用的主要技术。

　　电位溶出分析法包括两个独立而又有联系的过程，即富集过程和溶出过程，溶出又有氧化溶出和还原溶出之分。在氧化溶出时，富集电位控制在被测离子还原电位更负一些的电位上，使金属离子还原生成汞齐而富集于电极表面。电解富集一定时间后，断开恒电位电路，借助氧化剂（溶解氧或Hg（I）等）的氧化作用使电极表面的汞齐化金属氧化成离子进入溶液中，即为溶出过程。

　　电声法zeta电位分析仪特点如下：

　　■超宽动态光散射测量范围：0.3~8000nm；

　　■可测纳米粒子的三个重要要素：粒子直径、Zeta电位和分子量；

　　■样品浓度从ppm到百分之几十，都能在原液状态下取样和测定；

　　■微量电泳样品池，可以测定仅100ul的Zeta电位；

　　■广泛应用于胶质粒子、机能性纳米粒子、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等的测定；

　　■取样后，仅需按测定开始按钮即可，操作简单。

　　电声法zeta电位分析仪可广泛应用于生化、临床分析、卫生防疫、环境监测、地质、冶金、化工、农业、科研等领域中的痕量分析。