智能光谱分析仪常见参数的测试分析

　　智能光谱分析仪是在平时的光通信波分复用产品中较常使用到的仪表，其主要特点是动态范围大，灵敏度好，分辨率带宽小；比较适合于测试光信噪比。另外测量波长范围大，一般在600-1700nm，但是测试波长精度时却不如多波长计准确。

　　在光谱的测量、各参考点通路信号光功率、各参考点光信噪比、光放大器各个波长的增益系数和增益平坦度的测试都可以使用智能光谱分析仪。智能光谱分析仪现在也集成了WDM的分析软件，可以很方便地把WDM的各个波长的中心频率、功率、光信噪比等参数用菜单的方式显示出来。

　　智能光谱分析仪的屏幕显示测量条件、标记值、其它数据以及测量波形。屏幕各部分的名称显示参数如下：

　　1.光谱谱宽的测量

　　即光谱的带宽，使用光谱分析仪可以测量LD、发光二极管的谱宽。在光谱的谱宽测量时，要特别注意光谱分析仪系统分辨率的选择，即原理上光谱分析仪的分辨率应当小于被测信号谱宽的1/10，一般推荐设置为至少小于被测信号谱宽的1/5。

　　实际的测量中，为了能够准确测量数据，一般选择分辨率带宽为0.1nm以下。分辨率带宽RES位于SETUP菜单中的首项，直接输入所要设定的分辨率带宽的大小即可。当选择的分辨率带宽不同时，从光谱分析仪观察到的光谱形状有很大的不同，并且所测量得到的谱宽大小的不同。

　　在观察光谱谱宽的同时，也可以通过光谱分析仪读出光谱的中心频率、带宽、峰值功率和边模抑制比等参数。同时可以启动菜单，进行相应的标识，以方便量取所需要测试的参数值。

　　2.边模抑制比的测量

　　边模抑制比（SMSR）表示峰值能级与横模能级之间的能级差值。一般测量边模抑制比时，需要配合使用MARKER菜单和ANALYSIS菜单中相应的键。用MARKER菜单对主波峰值和z高的副波峰进行标识，读取两者的峰值功率值。边模抑制比为z高峰与次高峰之间的能级差。可以通过ANALYSIS菜单中相应的子选项计算得到后的值。

　　3.增益的测量

　　在进行OA板或光放大器模块测试的时候，需要测试增益参数（Gain）。增益定义为输出信号功率outP与输入信号功率inP之比。

　　在多波的情况下，还可以测试增益平坦度和增益斜率。其中，增益平坦度为增益的大值和小值之间的差值；增益斜率为两个波长在光放大器工作在两个增益状态变化值的比值。增益斜率主要用来衡量光放大器的不同波长增益的相对变化值，增益斜率越小，说明光放大器增益变化时各波长的一致性越好，越容易实现各波长的增益均衡。

　　应用智能光谱分析仪进行增益斜率的测量时，需要假设光放大器工作在两种增益状态，然后分别在不同的波长点下进行增益点的测量，记录各波长点测试得到的增益值，可以计算出增益斜率。

　　4.噪声系数的测量

　　光谱分析仪的一项重要功能是测量EDFA的等效噪声噪声系数（NF），简称噪声系数。

　　利用光谱分析仪进行NF的测量时，需要用到TRACE菜单和ANALYSIS菜单。首先将输入光纤放大器的输入光设置为可写状态，点击writeA，然后固定该轨迹Fix A；再将从光纤放大器输出的光的光谱设置为可写状态，点击writeB，然后固定该轨迹Fix B；之后再按ANALYSIS菜单中选择EDFA NF子选项，即可得到光谱分析仪计算NF的结果。