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美国MAS超声电声法纳米粒度及ZETA电位分析仪科普

更新时间:2024-09-30      点击次数:113

  随着纳米技术和材料科学的发展,对颗粒尺寸、形态及其表面性质的研究变得尤为重要。美国MAS公司推出的超声电声法纳米粒度及ZETA电位分析仪,为科研人员提供了一种全新的测量手段。本文将对该分析仪的可测量参数及主要特点进行简要介绍。

  可测量参数

  该分析仪能够提供一系列关键参数的测量,包括但不限于:

  粒度分布:评估颗粒大小的变化范围,有助于理解材料的均匀性。

  固含量:测定溶液中固体颗粒的百分比,对控制产品质量至关重要。

  Zeta电位:反映颗粒表面带电情况,影响颗粒间的聚集与分散行为。

  等电点(IEP):指颗粒表面电荷为零时的pH值,影响颗粒稳定性。

  电导率:测量溶液传导电流的能力,与离子浓度相关。

  pH值:表示溶液酸碱度,影响颗粒表面电荷状态。

  温度:影响颗粒的行为和反应速率。

  声衰减:评估介质吸收声波的能力,与颗粒浓度和粒径有关。

美国MAS超声电声法纳米粒度及ZETA电位分析仪科普.jpg

  主要特点

  多组分分析能力:能够同时分析多种分散物质的混合体,为复杂体系的研究提供了便利。

  等电点测定:无需依赖双层理论模型,直接测定等电点,提供更准确的结果。

  适应性强:适用于高导电性体系,拓宽了仪器的应用范围。

  抗干扰性强:能够排除杂质的影响,减少样品污染对结果的影响。

  无水体系测量:支持对无水环境中的样品进行测量,满足特定研究需求。

  多频电声技术:采用多频电声方法测量Zeta电位,无需预先知道颗粒尺寸。

  高浓度样品直接测量:允许对高达60%体积比的高浓度样品进行直接测量,避免了因稀释带来的误差。

  自动滴定功能:具备自动电位滴定功能,简化了实验操作流程。

  美国MAS超声电声法纳米粒度及ZETA电位分析仪以其技术优势,成为了研究纳米颗粒及其分散体系的重要工具。它不仅可以应用于基础科学研究,还能服务于工业生产过程中的质量控制,为新材料的研发与应用开辟了新的途径。


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