您好!欢迎访问上海胤煌科技有限公司网站!
全国服务咨询热线:

13390845525

当前位置:首页 > 技术文章 > 原液粒度及zeta电位分析仪工作原理

原液粒度及zeta电位分析仪工作原理

更新时间:2024-06-18      点击次数:122

  原液粒度及Zeta电位分析仪在材料科学、生物医药、半导体等多个领域扮演着重要角色,其工作原理基于精密的物理和化学原理。下面,我们将详细科普这两种分析仪的工作原理。

  一、原液粒度分析仪工作原理

  原液粒度分析仪主要采用斯托克斯定律(Stokes' Law)和光散射原理进行粒度分析。斯托克斯定律描述了颗粒在流体中的沉降速度与颗粒尺寸、密度以及流体粘度之间的关系。具体来说,颗粒在流体中的沉降速度与颗粒的直径的平方成正比,与颗粒的密度和流体的粘度成反比。因此,通过测量颗粒在流体中的沉降速度,可以间接地计算出颗粒的尺寸分布。

  在实际操作中,首先将待测颗粒样品与适量的流体混合,然后将混合物注入粒度分析仪的测量室内。测量室内设有激光器和光敏探测器,激光器发出的激光束穿过测量室。当颗粒通过激光束时,会散射出光信号,这些光信号被光敏探测器捕获。通过分析捕获的光信号,可以得到颗粒在流体中的沉降速度,进而计算出颗粒的尺寸分布。

原液粒度及zeta电位分析仪.jpg

  二、Zeta电位分析仪工作原理

  Zeta电位分析仪则采用电泳光散射原理。其工作原理是带电颗粒在外加电场作用下进行运动,电荷运动使散射光产生频率漂移(多普勒频移)。通过采用频谱漂移分析技术,可以计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。

  具体来说,Zeta电位分析仪会先对待测样品进行电场处理,使样品中的带电颗粒发生电泳运动。然后,通过激光器和光敏探测器测量颗粒在电场中的运动情况,即散射光的频率漂移。根据这些数据,分析仪可以计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位,从而了解样品的表面电荷性质和稳定性。

  原液粒度及Zeta电位分析仪的工作原理基于精密的物理和化学原理,通过测量和分析颗粒在流体中的沉降速度或电泳运动情况,可以得出颗粒的尺寸分布和表面电荷性质等重要信息。这些信息对于材料科学、生物医药、半导体等领域的研究和应用具有重要意义。


上海胤煌科技有限公司
地址:上海市浦东新区航川路18号
邮箱:info@yh-tek.com
传真:021-58220558
关注我们
欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息:
欢迎您关注我们的微信公众号
了解更多信息